【WIPS Global】 引用関係を一目で、 Citation Analysis(引用分析)

特許は、無形資産の代表的な知的産物であり、個人と企業及び国の技術水準と革新力量を図るのにとても重要な客観的尺度として活用されています。それに従って各企業や国の投資及び政策決定のみならず技術移転、ライセンシング、製品開発などにおいて一つの手段として特許技術に対する価値評価が大きく強調されています。特許開発者や企業が既存の特許を引用する意図に対する証拠が足りないにも関わらず他の特許に引用された回数が多い特許が技術的に高い価値を持つというのは様々な研究を通じて証明されています。特許引用分析は、特許間の引用関係に対する分析を通じて相互連関関係のみならず、相対的な重要度などに対する分析を行うことを意味します。多くの研究者たちはこれを通じて技術の質と影響力、技術情報の拡散などを分析しています。

今回のポストでは、特許出願時に引用された先行特許たちの引用関係を分析して特許間の関係を確認して、各技術分野で影響力が高い特許を探すのに役立つ機能をご紹介したいと思います。

▲Wipsglobal.com <WIPS Globalの詳細表示画面＞

WIPS Globalの引用分析(Citation Analysis)は、特許の引用及び被引用関係を分析したものです。発明単位の引用関係に従って出願番号を基準に引用データを提供していて、基準文献を中心に引用及び被引用関係を3Depthまで拡張して確認できます。

引用分析機能は、文献の詳細表示画面で「Citation」アイコンをクリックして表示できて、KR、US、CN、JP、EP、DE、BR、FR、RU、TWを対象に分析できます。基準文献を中心に引用、被引用をそれぞれ3Depthまで設定できます。引用、被引用の統計結果で表示された数字をクリックすると該当する特許リストを下の結果リストに表示できます。

▲Wipsglobal.com <WIPS GlobalのCitation Analysis＞

上記画像はテキストモードの画面です。

第一出願人、全体出願人、IPC(Main)、IPC(All)、国によって引用文献をグループ化して表示できます。引用、被引用テーブルの数字をクリックすると該当数字の特許リストを確認できて、上位5つの出願人の統計をコラム、バー、ライン、パイ類型のチャートで確認できます。

Depth、国、引用段階で区分された引用文献の出処統計と共に文献リストを確認出来て、多数の特許文献を検討するためリスト化された文献をSmartangle、EasyViewer、My Folderなどの付加機能と連携して活用もできます。

▲Wipsglobal.com <WIPS GlobalのCitation Analysis＞

ビジュアルモードは、引用Depthと年度で区分して一目で確認できます。

ハイライト機能を通じて検討したい国だけを表示することができて、引用文献表示(Citation Reference)を選択すると該当文献が審査過程で確認されたのか、審判に活用されたか、または出願人によって作成されたのかなどの出処を確認できます。

▲Wipsglobal.com <WIPS GlobalのCitation Analysis＞

Depthフォーマット画面です。基準文献を中心にDepth別に区分して検討できる機能です。

各特許ボックスを選択すると該当文献の要約情報(文献情報、出願番号、発明の名称、出願人、Original IPC、代表請求項、要約)を確認できます。ダブルクリックすると、詳細表示ページに移動します。

無効調査のように、先行技術文献を漏れなく検討する必要があるとき、または該当技術の出願動向を確認する時に有用に活用できます。

▲Wipsglobal.com <WIPS GlobalのCitation Analysis＞

また、自分の特許を引用した自己引用(出願人代表名化が同一の文献)、他の出願人が引用した他人引用を確認できます。

自己引用では該当企業の技術に対する戦略的な特許出願現況を確認出来て、他人引用では該当技術を事業的に活用したり計画している企業たちを把握することができます。

ここまで、WIPS Globalの引用分析機能をご紹介しました。

特許の引用は各種調査及び価値評価の重要な指標の一つです。自社及び競合他社の特許価値を把握して、侵害可能性、回避戦略を立てるのにぜひご活用ください。

＜参考＞――――――――――――

1．“The method find powerful patent or patent information analysis system using patent citation analysis” Proceedings of the Korean Information Science Society Conference, 2005.07b (July 1, 2005): 169-171

2．“Analysis of Factors Influencing Patent Citations.” Journal of the Korean Society for Information Management 27, no. 1 (March 1, 2010): 103–18. doi:10.3743/KOSIM.2010.27.1.103.

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